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    1. 18 2014-02

      變壓器掃描測試常見問題及解決方法
      1.上下限問題用戶在測試過程中發(fā)現(xiàn)待測變壓器某些測量值嚴(yán)重不合要求，但判斷表格中仍然顯示該參數(shù)合格。原因分析：用戶在該參數(shù)極限設(shè)置過程中設(shè)置了標(biāo)稱值（STD)但沒有設(shè)置上下限值或是上下限值只設(shè)置了一個(gè)。解決方案：在該參數(shù)極限設(shè)置菜單中設(shè)定上下限即可。2.不測量問題用戶在測試過程中發(fā)現(xiàn)待測變壓器某些參. . .

    2. 18 2014-02

      電容測試儀儀器開路校正
      電容測試儀儀器開路校正功能能消除與被測元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納（G,B)造成的誤差。開路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開路校正和對所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開路校正。特別注意：當(dāng)進(jìn)行開路校正時(shí)應(yīng)將測試夾具連接到電容測試儀儀器測試端。夾具開路，不連接到任何被測元件。按軟鍵ON，使開路校正有效，電容測試儀儀器將. . .

    3. 21 2014-04

      選擇合適的測試夾具的重要性
      選擇測試夾具，和選擇合適的測試設(shè)備一樣重要。Agilent提供了大量的配件，用于軸向，徑向和SMD/芯片器件的測試。此外，Agilent還提供了各種各樣的測試導(dǎo)線，用來簡化遠(yuǎn)程測試和應(yīng)用，以及帶有安全封裝的外置的測試夾具。合適的測試夾具，將從以下幾方面改善您的測試1.更具可靠性和可重復(fù)性2.更高的測. . .

    4. 21 2014-04

      LCR數(shù)字電橋常用測試夾具***
      有了LCR數(shù)字電橋，還需要選擇一款合適的測試夾具才能滿足您的測試需求。LCR數(shù)字電橋，顧名思義是用來測試電阻，電容，電感的儀器，而每一種不同的元件封裝形式是不一樣的，比如：貼片的，插件的，軸向的，徑向的，低阻抗的，高阻抗的。下圖列出了常州致新適應(yīng)與LCR數(shù)字電橋的常用***夾具。. . .

    5. 21 2014-04

      熱敏電阻的工作原理及測量
      熱敏電阻將長期處于不動作狀態(tài)；當(dāng)環(huán)境溫度和電流處于c區(qū)時(shí)，熱敏電阻的散熱功率與發(fā)熱功率接近，因而可能動作也可能不動作。熱敏電阻在環(huán)境溫度相同時(shí)，動作時(shí)間隨著電流的增加而急劇縮短；熱敏電阻在環(huán)境溫度相對較高時(shí)具有更短的動作時(shí)間和較小的維持電流及動作電流。1、ptc效應(yīng)是一種材料具有ptc(positi. . .

    6. 21 2014-04

      用濾波器測試儀測試共模電感的優(yōu)勢
      共模電感(CommonmodeChoke)，也叫共模扼流圈，常用于電腦的開關(guān)電源中過濾共模的電磁干擾信號。在板卡設(shè)計(jì)中，共模電感也是起EMI濾波的作用，用于抑制高速信號線產(chǎn)生的電磁波向外輻射發(fā)射。共模電感實(shí)質(zhì)上是一個(gè)雙向?yàn)V波器：一方面要濾除信號線上共模電磁干擾，另一方面又要抑制本身不向外發(fā)出電磁干擾. . .

    7. 21 2014-04

      LCR數(shù)字電橋測試信號檢測功能的巧妙應(yīng)用
      使用LCR數(shù)字電橋測量有些電感和陶瓷電容時(shí)，了解施加于被測件2端的電平是十分重要的。實(shí)際施加于被測件上的電平（電壓或電流）與LCR數(shù)字電橋信號源內(nèi)阻，被測件阻抗，頻率，電壓都有關(guān)，雖然用戶設(shè)置的電平相同，若信號源阻抗不同，實(shí)際施加于被測件上的電平就不同。如何知道加在被測件上的實(shí)際電壓和電流呢？致新精. . .

    8. 21 2014-04

      直流電阻測試儀如何正確清零
      在使用小量程（比如20mΩ和200mΩ）時(shí)，為保證直流電阻測試儀測試精度，必須正確清零。由于直流電阻測試儀儀器采用了四端測量法，所以使用者在清零時(shí)，一定要使直流電阻測試儀儀器的Hucr端和Lcur端直接接觸，Hpot端與Lpot端直接接觸。具體地說：使兩個(gè)測試夾有引出測試線的兩金屬片直接接觸，無引出. . .

    9. 21 2014-04

      電容測試儀儀器開路校正
      電容測試儀儀器開路校正功能能消除與被測元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納（G,B)造成的誤差。開路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開路校正和對所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開路校正。特別注意：當(dāng)進(jìn)行開路校正時(shí)應(yīng)將測試夾具連接到電容測試儀儀器測試端。夾具開路，不連接到任何被測元件。按軟鍵ON，使開路校正有效，電容測試儀儀器將. . .
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